DFT可測試性設(shè)計(jì)培訓(xùn)課程

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培訓(xùn)大綱

第一階段

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課程大綱：

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1. VLSI test

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2. DFT要點(diǎn)

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3. DFT設(shè)計(jì)流程

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4. DFT設(shè)計(jì)技巧

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5. Fault model

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6. ATPG

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7. ATPG技巧

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8. Fault simulation

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9. Fault 要點(diǎn)

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10. Fault 技巧

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11. Fault 流程

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12. Scan

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13. 掃描技巧

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14. 掃描要點(diǎn)

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15. 掃描流程

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16. JTAG

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17. Logic BIST

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18. Test compression

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19. Memory test

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20. Memory 測試要點(diǎn)

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21. Memory測試流程

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22. Memory測試技巧

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23. scan chain/ BSD/BIST　概念與設(shè)計(jì)方法

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24.DFT 的測試原理/測試方法( D算法　向量產(chǎn)生與仿真)

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25.BSD 基本單元和JTAG測試　

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第二階段 SCAN synthesis

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1.Scan概念及方法介紹

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2.Scan實(shí)現(xiàn)流程及問題解決

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3.Scan DRC violation講解及解決方法

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4.Scan技巧

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第三階段 ATPG

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1.ATPG介紹

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2.Fault models

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3.Fault simulation

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4.ATPG DRC Violation的解決方法

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5.ATPG patten generation

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6.測試壓縮及方法

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7.ATPG patten驗(yàn)證

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8.ATPG技巧

第四階段 JTAG/1500

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1.JTAG方法

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2.JTAG及其擴(kuò)展應(yīng)用

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3.JTAG實(shí)現(xiàn)及驗(yàn)證

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4.JTAG技巧

第五階段 BIST/MBIST

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1.BIST/MBIST 方法

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2.Memory類型介紹

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3.BIST solution

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4.MBIST算法

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5.MBIST驗(yàn)證

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6.BIST/MBIST 技巧

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