培訓(xùn)內(nèi)容：
第一部分：電子可靠性設(shè)計(jì)原則
1.1 RAMS定義與評(píng)價(jià)指標(biāo)；
1.2 電子、機(jī)電一體化設(shè)備的可靠性模型；
1.3 系統(tǒng)失效率的影響要素；
1.4 電子產(chǎn)品可靠性指標(biāo)；
1.5 工作環(huán)境條件的確定；
1.6 系統(tǒng)設(shè)計(jì)與微觀設(shè)計(jì)的區(qū)別；
1.7 過(guò)程審查與測(cè)試；
1.8 設(shè)計(jì)規(guī)范與技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)；
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第二部分：電路可靠性設(shè)計(jì)規(guī)范
2.1 降額設(shè)計(jì)：各種器件的降額參數(shù)和降額因子、結(jié)溫降額的計(jì)算、降額設(shè)計(jì)規(guī)范、參考標(biāo)準(zhǔn)；
2.2 電路熱設(shè)計(jì)規(guī)范：熱設(shè)計(jì)基礎(chǔ)、熱設(shè)計(jì)計(jì)算、散熱方案選擇、熱設(shè)計(jì)測(cè)試、散熱器件選型；
2.3 電路安全性設(shè)計(jì)規(guī)范；
2.4 電路板EMC設(shè)計(jì)規(guī)范；
2.4 PCB設(shè)計(jì)規(guī)范：電路基板設(shè)計(jì)規(guī)范、PCB布局設(shè)計(jì)規(guī)范、布線規(guī)范、阻抗匹配、模擬電路設(shè)計(jì)、PCB設(shè)計(jì)中地的分割方法和原則；
2.5 可用性設(shè)計(jì)規(guī)范：可用性設(shè)計(jì)要素、用戶操作分析、設(shè)計(jì)準(zhǔn)則；
2.6 可維修性設(shè)計(jì)規(guī)范：可維修性設(shè)計(jì)要素、可維修性評(píng)估標(biāo)準(zhǔn)、設(shè)計(jì)方法；
第三部分：電路設(shè)計(jì)工程計(jì)算基礎(chǔ)
3.1 過(guò)渡過(guò)程
3.2 降額使用
3.3 Datasheet的應(yīng)用
3.4 系統(tǒng)失效率與可靠性串并聯(lián)模型
3.5 電子系統(tǒng)可靠性量化評(píng)估方法
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第四部分：工程計(jì)算與器件選型
4.1 電阻選型計(jì)算
電阻的固有特性 上拉電阻、下拉電阻、限流電阻、分壓電阻、阻抗匹配電阻的選型計(jì)算
4.2 電容選型計(jì)算
電容的固有特性與寄生參數(shù) 退耦電容、儲(chǔ)能電容、安規(guī)電容、隔直電容、濾波電容的選型計(jì)算
4.3 電感選型計(jì)算
4.4 晶振及振蕩電路選型計(jì)算
4.5 散熱器件
整機(jī)散熱計(jì)算 散熱片、風(fēng)扇、半導(dǎo)體致冷片散熱選型計(jì)算
4.6 光電器件選型計(jì)算
光耦、發(fā)光二極管、數(shù)碼管選型計(jì)算
4.7 導(dǎo)線與接插件選型計(jì)算
4.8 保護(hù)器件選型計(jì)算
保險(xiǎn)絲、TVS管、壓敏電阻、高壓放電管選型計(jì)算
4.9 濾波器件選型計(jì)算
濾波器件特性 濾波電路設(shè)計(jì)計(jì)算 濾波器、濾波電容、磁珠磁環(huán)、電感選型計(jì)算
4.10 PCB板選型
PCB板特性及PCB設(shè)計(jì)計(jì)算
4.11 數(shù)字IC器件選型
4.12 模擬IC器件選型
AD、運(yùn)放、放大器件的選型計(jì)算
4.13 電源模塊選型計(jì)算
電壓轉(zhuǎn)換類器件、電源模塊、變壓器的選型計(jì)算及設(shè)計(jì)應(yīng)用方法
4.14 開關(guān)類器件
開關(guān)類器件的特性 開關(guān)管、繼電器選型計(jì)算
4.15 二極管三極管
二極管和三極管特性 三極管、二極管選型計(jì)算
4.16 電控機(jī)械器件
電機(jī)特性 電機(jī)選型計(jì)算
4.17 軟件類
存儲(chǔ)空間、中斷or查詢選擇、界面設(shè)計(jì)、時(shí)序、運(yùn)算執(zhí)行時(shí)間的計(jì)算
4.18 可維修性評(píng)估
量化評(píng)估指標(biāo)和試驗(yàn)方法
4.19 其它
按鍵、揚(yáng)聲器的選型方法和計(jì)算?
第五部分：常用元器件失效機(jī)理與分析方法
5.1 常見元器件失效機(jī)理；
5.2 分析方法；
5.3 失效分析輔助工具；
第六部分：可靠性測(cè)試
6.1 標(biāo)準(zhǔn)符合性測(cè)試；
6.2 邊緣極限條件測(cè)試；
6.3 容錯(cuò)性測(cè)試；
6.4 HALT；
6.5 破壞性試驗(yàn)；
6.6 隱含條件測(cè)試；
6.7 接口條件測(cè)試；
6.8 checklist
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